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C2311
玻璃鍍膜厚度X射線螢光分析儀
本XRF分析儀專為玻璃基材上的多層或單層鍍膜厚度及成分分析設計。透過非破壞性檢測，可快速精確地測量低輻射(Low-E)、導電(ITO/AZO)、抗反射(AR)等各類功能性鍍膜的厚度與元素含量，確保鍍膜品質符合設計要求，提升產品性能。
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