L4
C2760
台灣高精度光學鏡片干涉儀
台灣量測TMS-IFR200是一款用於高精度測量光學鏡片表面形狀和波前誤差的干涉儀。它採用Fizeau干涉原理，結合先進的相移技術和軟體演算法，能夠快速、非接觸地評估鏡片的平面度、球面度、非球面偏差等關鍵參數，確保光學系統的成像品質。
台灣量測TMS-IFR200是一款用於高精度測量光學鏡片表面形狀和波前誤差的干涉儀。它採用Fizeau干涉原理，結合先進的相移技術和軟體演算法，能夠快速、非接觸地評估鏡片的平面度、球面度、非球面偏差等關鍵參數，確保光學系統的成像品質。